안리쓰는 펄스 레이저 다이오드(LD) 칩을 평가하는 광 스펙트럼 분석기 MS9740B의 측정 기능이 강화된 옵션 ‘MS9740B-020’을 발표했다.

새로운 솔루션은 펄스 LD 칩의 테스트 시간을 줄여 고출력 LD 칩의 생산 효율 향상에 기여한다.

◇ 개발 배경

LD 칩 제조업체와 광학 장비 공급업체는 제조 과정에서 LD 칩의 광학 스펙트럼을 평가하게 된다.

고출력 LD 칩에 대한 시장 수요는 더 높은 통신 비트 전송률과 더 긴 LiDAR 감지 범위에 의해 주도되고 있으며, Co-packaged Optics 애플리케이션을 위한 ELSFP(External Laser Small Pluggable) 모듈과 같은 새로운 사용 사례는 수요를 더욱 가속화할 것으로 보여진다.

고출력 LD 칩의 연속파(CW) 출력은 칩 온도가 상승함에 따라 전력 드리프트 및 중심 파장의 이동을 야기시킨다. 이 현상은 펄스 LD 칩을 사용해 온도 상승을 억제함으로써 방지된다. 그러나 펄스 LD 칩과 동기화하기 위해서는 외부 트리거 신호가 필요하기 때문에 생산 중 펄스 LD 칩의 전류 테스트는 더 오래 걸릴 수 있다.